三重掃描方式杜絕「量不到」的問題

可依樣本工件的材質、形狀、量測範圍,選擇雷射共軛焦、白光干涉、Focus Variation 3種不同掃描原理,達到高精度量測。

白光干涉
雷射共軛焦
Focus Variation

最高解析度0.01 nm

奈米等級的微小形狀變化也可正確量測。
針對鏡面或透明體等高難度材質,也可實現高速、高精度、大範圍的量測。

段差劇烈的凹凸或 大範圍的量測皆可對應

最大掃描區域50 mm平方。
較大的凹凸或手掌大小的目標物皆可完整掃描。
全貌與部分形狀雙方皆可一台掌握。

高倍率/低倍率、平坦/凹凸 均可

目標物不受限的量測對應力

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