檢測薄膜的皺紋

薄膜輸送過程產生的皺紋將導致收捲時變形等產品不良。LJ-X 系列能以超高精細度與高靈敏度進行量測，無論透明、不透明均能量測薄膜形狀。此外，其量測寬度最大為 720 mm，可支援各種尺寸的產品。

超高精細線上輪廓感測器

LJ-X8000 系列