量測微針的高度

使用工具顯微鏡進行檢查時，人為偏差以及檢查耗時都是需要解決的課題。WI系列以面執行同時量測，因此可以非接觸的方式，瞬間且無誤差地量測在狹窄範圍內大量配置的針頭高度。

3D 干涉式位移感測器

WI-5000 系列