CMOS 的縫隙量測

於安裝 CMOS 前量測元件、保護玻璃之間的縫隙。CL-3000 系列採彩色共焦的方式，因此不受目標物傾斜的影響，能夠實現高精度量測。

彩色共焦雷射位移計

CL-3000 系列

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