量測記憶卡連接器的共面性

具備廣泛光量動態量程的 WI-5000 系列可以同時量測反射光強的鍍層與反射光弱的樹脂部分。

3D 干涉式位移感測器

WI-5000 系列

返回到根據產業和用途選擇產品