銀膠高度量測

以往會移動 1D 雷射位移計來量測多點的高度。有了能透過面執行同時量測的 WI 系列，就能瞬間量測頂點高度及銀膠的高度偏差等資料。

3D 干涉式位移感測器

WI-5000 系列

返回到根據產業和用途選擇產品