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表面粗糙度的參數

偏度（skewness）（Rsk、Psk、Wsk）

偏度表示的是，在利用均方根高度的立方進行了無次元化的基準長度上的 Z(x)的立方平均。

表面粗糙度的參數

以下說明ISO4287-1997 的主要參數。各參數分為橫截面曲線（P）、粗糙度曲線（R）、波度曲線（W），需針對各個曲線進行評估、管理。（與波度或橫截面形狀成分的波長相比時，表面粗糙度成分為波長相對較短的凹凸成分。）

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高度方向的波峰、波谷 算術平均高度（arithmetic mean deviation）（Ra、Pa、Wa）
最大高度（maximum height of profile）（Rz、Pz、Wz）
最大波峰高度（maximum profile peak height）(Rp, Pp, Wp)
最大波谷深度（maximum profile valley depth）（Rv、Pv、Wv）
輪廓曲線要素的平均高度（mean height of profile elements）（Rc、Pc、Wc）
最大橫截面高度（total height of profile）（Rt、Pt、Wt）
高度方向振幅平均 均方根高度（root mean square deviation）（Rq、Pq、Wq）
高度方向特點平均 偏度（skewness）（Rsk、Psk、Wsk）
峰度（kurtosis）（Rku、Pku、Wku）
橫向 輪廓曲線要素的平均長度（mean width of the profile elements）（RSm、PSm、WSm）
混合 均方根傾斜（root mean square slope）（RΔq、PΔq、WΔq）
負載曲線、機率密度函數 負載長度率（Rmr(c)、Pmr（c）、Wmr（c））
輪廓曲線的橫截程度差（Profile cut level difference）(Rδc、Pδc、Wδc)
相對負載長度率（Rmr、Pmr、Wmr）
負載曲線（BAC）
機率密度函數（ADF）

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